KIT 学術成果コレクション

工芸科学研究科（～2015.3.31）・学系（2015.4.1～）
- 設計工学系　～2015.3.31
  - 電子システム工学部門

会議発表論文

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
cs_01_005	pdf	268 KB	543

論文情報

title	欠陥のある方形溝グレーティングからの散乱(III)－TM平面波入射－
contributor.author	服部, 一裕
contributor.author	中山, 純一
publisher	社団法人電子情報通信学会
subject	周期構造
	欠陥
	回折
	散乱
	２ステップ解析法
	積分方程式
	多重散乱効果
	マスオペレータ
カテゴリ	会議発表論文

title	欠陥のある方形溝グレーティングからの散乱(III)－TM平面波入射－
contributor.author	服部, 一裕
contributor.author	中山, 純一
publisher	社団法人電子情報通信学会
subject	周期構造
	欠陥
	回折
	散乱
	２ステップ解析法
	積分方程式
	多重散乱効果
	マスオペレータ
date.accessioned	2008-11-17T02:22:05Z
date.available	2008-11-17T02:22:05Z
date.issued	2007-03-07
description.abstract	メモリチップの配線やＬＣＤ電極のような周期構造における欠陥を散乱現象を用いて計測・検出するための基礎的・理論的研究を行った。方形溝グレーティングにおいて単一の欠陥がある場合を取り扱い、散乱現象を解析する２ステップ解析法を新たに提案した。散乱波のスペクトルが満たす積分方程式を導いき、その積分方程式が多重散乱効果を表すマスオペレータ因子を持つことを明らかにしている。
description.provenance	Submitted by 附属図書館 KIT-Repository (dspace-admin@jim.kit.ac.jp) on 2008-11-17T02:22:05Z No. of bitstreams: 1 cs_01_005.pdf: 274994 bytes, checksum: 3b248a9e37403fe2687c85b0083d7aa2 (MD5)
description.provenance	Made available in DSpace on 2008-11-17T02:22:05Z (GMT). No. of bitstreams: 1 cs_01_005.pdf: 274994 bytes, checksum: 3b248a9e37403fe2687c85b0083d7aa2 (MD5) Previous issue date: 2007-03-07
description	(CS-1.有限・無限(周期)構造系の電磁界解析とその応用,シンポジウム)
format.extent	274994 bytes
format.mimetype	application/pdf
identifier.citation	電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007年_エレクトロニクス(1),"S-25"-"S-26",20070307(社団法人電子情報通信学会)
identifier.uri	http://hdl.handle.net/10212/1823
language.iso639-2	ja
rights.textversion	publisher
rights	copyright©2007 IEICE
type.nii	Conference Paper
type	Article

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